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退火温度对透明导电Ga2O3/ITO周期多层膜性能的影响

赵银女

材料科学与工程学报 doi:10.14136/j.cnki.issn.1673-2812.2015.04.018

用射频磁控溅射Ga2O3陶瓷靶材和直流磁控溅射ITO靶材在石英玻璃衬底制备Ga2 O3 /ITO周期多层膜.样品在300~800℃真空退火1小时,研究退火温度对薄膜光学和电学性能的影响.400℃退火的Ga2O3/ITO周期多层膜面电阻和电阻率低至68.76Ω/□和3.47×10-3Ω·cm,载流子浓度和霍尔迁移率高达1.30×1020 cm-3和14.02cm2 V-1 s-1.退火温度超过500℃后,Ga2O3膜层和ITO膜层之间开始相互扩散,薄膜结晶质量和导电性变差.所有退火薄膜在紫外-可见光范围的平均光学透过率高于83%,光学带边吸收随退火温度增加发生蓝移,光学带隙从4.59eV增加到4.78eV.

关键词: 磁控溅射 , 多层膜 , 透明导电膜 , 退火 , 光学性质 , 电学性质

Ce掺杂ZnO 压敏薄膜的微观结构与电学性能研究?

何恺 , 吴文浩 , 陈步华 , 吴婕婷 , 徐传孟 , 徐东

功能材料 doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2015.18.014

通过溶胶-凝胶法制备了一种稀土 Ce 掺杂的ZnO-Bi2 O3压敏薄膜,对薄膜进行了XRD、AFM、介电与压敏性能的表征.结果表明,Ce 掺杂不会影响ZnO-Bi2 O3压敏薄膜的晶体结构,但是会减小 ZnO-Bi2 O3压敏薄膜的晶粒尺寸.Ce 掺杂会降低 ZnO-Bi2 O3压敏薄膜的漏电流,减小材料的介电损耗,提升ZnO-Bi2 O3压敏薄膜的非线性性能.当 Ce 掺杂量达到0.3%(摩尔分数)时,ZnO-Bi2 O3压敏薄膜的压敏电压达到了175 V/mm,漏电流降低至502μA.

关键词: ZnO , 稀土 , 显微组织 , 压敏电阻 , 电学性能

ZrB2-SiC复合陶瓷发热体的电性能与发热体表面温度之间关系的研究

周森安 , 郭进武 , 张森 , 邵军 , 李军波

耐火材料 doi:10.3969/j.issn.1001-1935.2014.06.012

按照ZrB2和SiC的质量比为7525配料,混料、烘干、热压烧结后,经线切割加工成ZrB2-SiC复合陶瓷直型发热体,研究了发热体的物相组成、微观形貌及在空气和氩气气氛下发热温度随电流电压的变化规律。结果表明,ZrB2-SiC复合陶瓷由均匀分布在ZrB2基体晶界处的SiC颗粒和尺寸小于10μm的等轴状基体ZrB2颗粒组成;在空气和氩气气氛下,ZrB2-SiC复合陶瓷发热体的温度均随电流、电压及加热时间的延长呈稳步增大趋势,同时空气气氛下发热体的电阻随温度升高而增大,并呈现线性变化;在空气和氩气气氛下,ZrB2-SiC复合陶瓷发热体表面温度分别达到1800和2200℃。同时,与铬酸镧和氧化锆发热体相比,其电压、电阻变化较小,电流较大。

关键词: ZrB2-SiC复合陶瓷 , 发热体 , 电性能 , 温度

多元系(1-x)PZT-x(0.2PFN-0.2PZN-0.6PNN)铁电陶瓷的微结构和性能

柳听前 , 林啸 , 周志东 , 程璇 , 张颖

功能材料

通过设计组分制备出综合性能优异的铁电陶瓷(1-x)PZT-x(0.2PFN-0.2PZN-0.6PNN)(x取0.1、0.2、0.3、0.4和0.5),确定其准同型相界,并研究了铁电畴结构与材料宏观性能的关系。XRD结果表明,随着A(B′B″)O3型弛豫铁电成分含量的增加材料由四方相向三方相转变;透射电镜结果显示,样品的铁电畴由较大的鲱鱼骨状畴逐渐变为弥散的畴结构形态,畴结构的变化对材料的性能产生很大影响。介电温谱表明,随x增大居里温度逐渐降低,x≥0.3时材料表现出弛豫铁电体的性质,x=0.3时室温介电常数达到最大值3050。x=0.2时材料表现出优良的介电、压电和铁电性能,压电系数取最大值485pC/N,剩余极化强度达最大值37μC/cm2,居里温度对应的介电常数达最大值22000。综上所述,该体系材料的准同型相界位于0.2~0.3。

关键词: 铁电陶瓷 , 准同型相界 , 微观结构 , 电性能

(0.995-x)K0.48Na0.52NbO3-0.005BiCoO3-xBi0.5Na0.5ZrO3无铅压电陶瓷相结构及电学性能的研究?

黄涛 , 吴波 , 肖定全 , 吴家刚 , 刘超 , 朱建国

功能材料 doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2016.07.011

采用传统固相法制备了(0.995-x)K0.48 Na0.52 NbO3-0.005BiCoO3-xBi0.5 Na0.5 ZrO3(KNN-0.005BC-xBNZ,x=0~0.045)系无铅压电陶瓷,研究了Bi0.5 Na0.5 ZrO3的引入对KNN基无铅压电陶瓷相结构和电学性能的影响.研究结果表明,BNZ的引入能够同时使KNN陶瓷的正交-四方相变温度(TO-T)向低温方向移动,三方-正交相变温度(TR-O)向高温方向移动.当0.03<x≤0.04时,陶瓷在室温附近正交-四方(O-T)相和三方-正交(R-O)相(即R-O-T相)共存,使陶瓷的电学性能得到大幅提高;当x=0.035时,陶瓷具有最优的电学性能:d33=320 pC/N,kp=52%,Pr=19.7μC/cm2,εr=1400,tanδ=2.5%,TC=335℃.

关键词: 无铅压电陶瓷 , KNN , 新型相界构建 , 电学性能

Al掺杂ZnO薄膜的制备及其电学性能研究

张杨 , 范树景 , 王红英 , 李国晶 , 赵淑金

材料导报

采用溶胶-凝胶法在玻璃基底上制备掺杂铝的氧化锌薄膜.研究了不同的铝掺杂浓度、薄膜厚度以及退火温度对电阻率的影响,结果表明掺杂铝摩尔分数为2%、退火温度在550℃时电阻率最低,电阻率随着薄膜厚度的增加而减小.通过XRD和SEM对薄膜的组织结构和形貌进行了表征,结果表明样品表面相对平整、致密,AZO薄膜保持着ZnO六角纤锌矿结构,说明了Al原子对Zn原子的有效替位.

关键词: AZO薄膜 , 溶胶-凝胶法 , 电学性能

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